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高低溫試驗(yàn)箱用于試驗(yàn)產(chǎn)品在高低溫的環(huán)境下模擬運(yùn)行，以評(píng)估產(chǎn)品的工作性能，適用于IEC60068,GB/T2423.1-2008,GB/T2423.2-20制作標(biāo)準(zhǔn)為GB/T5170.18-2005.GB/T10589（低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件）、GB/T11158（高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件）

產(chǎn)品概述：本步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱，根據(jù)需方要求，依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗(yàn)規(guī)程A/B：低溫試驗(yàn)方法，高溫試驗(yàn)方法》、《GB/T2423.3-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法》

本可程式高低溫試驗(yàn)箱用于試驗(yàn)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低的環(huán)境下存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用時(shí)的適用性試驗(yàn)，以評(píng)估產(chǎn)品的工作性能，適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Z/AD 溫度循環(huán)試驗(yàn)方法

本杭州奧博可程式高低溫試驗(yàn)箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)Z/AD 溫度循環(huán)試驗(yàn)方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標(biāo)準(zhǔn)為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗(yàn)箱技術(shù)）、GB/T11158（高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件）

產(chǎn)品概述：本杭州奧博步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱廠家根據(jù)需方要求，依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗(yàn)規(guī)程A/B：低溫試驗(yàn)方法，高溫試驗(yàn)方法》、《GB/T2423.3-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法 可供各種元器件、整機(jī)作恒溫試驗(yàn)，用途廣泛。 特 點(diǎn) 箱體采用拼板組合結(jié)構(gòu)，便于現(xiàn)場(chǎng)安裝，運(yùn)行可靠。

產(chǎn)品概述：本杭州步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱廠家根據(jù)需方要求，依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗(yàn)規(guī)程A/B：低溫試驗(yàn)方法，高溫試驗(yàn)方法》、《GB/T2423.3-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法 可供各種元器件、整機(jī)作恒溫試驗(yàn)，用途廣泛。 特 點(diǎn) 箱體采用拼板組合結(jié)構(gòu)，便于現(xiàn)場(chǎng)安裝，運(yùn)行可靠。